Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Lunedì 27 Febbraio 2012

La data ultima utile di presentazione degli abstract per contribuire alla Conferenza Internazionale su Pellicole e Superfici Solide, ICSFS 16, che si terrà a Genova, Italia, tra il 1° e il 6 di Luglio 2012, è stata prorogata al 9 Marzo p.v., entro la mezzanotte.

Si precisa che è...

Martedì 21 Febbraio 2012

DHM R2200 series

Schaefer SEE sarà presente alla decima conferenza internazionale sulla misurazione laser delle vibrazioni ad Ancona. Saremo presenti nella sezione espositori, con il nostro fornitore Lyncée Tec. Sarà il momento opportuno per vedere in azione la strumentazione della casa svizzera, con le novità,...

Lunedì 20 Febbraio 2012

Universal Testing Machine UTM-150 Agilent

Abbiamo appena aggiornato la scheda tecnica dell'UTM 150 Universal Testing Machine della Agilent Technologies. Informazioni più accurate sul sistema, sulle caratteristiche tecniche, su quanto viene fornito insieme allo strumento.

Martedì 14 Febbraio 2012

Vacuum Gauge con attacco KF-16

Non tutti gli attacchi possono soddisfare le esigenze dei nostri Clienti. Ma per ovviare a questo tipo di problemi Teledyne Hastings è in grado di proporre soluzioni alternative. Nel caso specifico abbiamo ottenuto la personalizzazione dell'attacco di un HPM-760s, che può essere così collegato a...

Giovedì 09 Febbraio 2012

Sample Topography

Lynvée Tec, la casa svizzera che produce microscopi nanometrici 3D, distribuiti da Schaefer SEE Srl, ha presentato a Parigi, alla Conferenza IEEE MEMS 2012 di inizio febbraio, le novità per l'anno nuovo, che riguardano in larga parte il software.

Queste le nuove caratteristiche che hanno...

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