Misura nella nanoscala di strutture periodiche di superficie con sonda elettroni in femptoAmpere
Produttore:
Categoria:
CARATTERISTICHE:
- Completamente digitale: senza schermo fluorescente
- Ampia coherence width
- Fascio primario di elettroni nel range dei femtoAmpere
- Operatività potenziata dal controller LEED digitale
- Il Femto-LEED rende possibile la diffrazione degli elettroni sul singolo cristallo
File
| Allegato | Dimensione |
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 Fempto-LEED con otturatore completo DLD-L800 - Brochure | 165.92 KB |